Multiple sample sources for use with mass spectrometers, and apparatus, devices, and methods therefor

Sources d'échantillons multiples à utiliser avec des spectromètres de masse, et appareil, dispositifs, et procédés correspondants

Mehrfachprobenquellen zur verwendung mit massenspektrometern und vorrichtungen, einrichtungen und verfahren dafür

Abstract

A method for introducing samples through a boundary member partially defining a chamber at an entrance point coaxial to a sampling inlet of a mass spectrometer is described. Field-free conditions can be established in at least one region of the chamber. The sample can be introduced adjacent to the sampling inlet, and introducing at least a second sample can be introduced through at least one other entrance point in the chamber not adjacent to the sampling inlet. An apparatus having a sampling inlet and a boundary member partially defining a chamber is also described. Field-free conditions can be established in at least one region of the chamber, and there can be a first aperture in the boundary member through which a source emits sample. Related devices, uses and mass spectrometers are also described.
L'invention concerne un procédé permettant d'introduire des échantillons à travers un élément de séparation définissant partiellement une chambre en un point d'entrée coaxial à une entrée d'échantillonnage d'un spectromètre de masse. Des conditions hors champ peuvent être établies dans au moins une région de la chambre. L'échantillon peut être introduit adjacent à l'entrée d'échantillonnage, et l'introduction d'au moins un second échantillon peut se faire à travers au moins un autre point d'entrée dans la chambre non adjacent à l'entrée d'échantillonnage. L'invention concerne également un appareil possédant une entrée d'échantillonnage et un élément de séparation définissant partiellement une chambre. Des conditions hors champ peuvent être établies dans au moins une région de la chambre, et il peut y avoir une première ouverture dans l'élément de séparation à travers laquelle une source émet un échantillon. L'invention concerne également des dispositifs, utilisations et spectromètres de masse associés.

Claims

Description

Topics

Download Full PDF Version (Non-Commercial Use)

Patent Citations (4)

    Publication numberPublication dateAssigneeTitle
    US-2003224529-A1December 04, 2003Romaine Maiefski, Jonathan KrakoverDual ion source assembly
    US-6541768-B2April 01, 2003Analytica Of Branford, Inc.Multiple sample introduction mass spectrometry
    US-6646257-B1November 11, 2003Agilent Technologies, Inc.Multimode ionization source
    WO-02080223-A1October 10, 2002Wisconsin Alumni Research FoundationPiezoelectric charged droplet source

NO-Patent Citations (1)

    Title
    See also references of WO 2008037073A1

Cited By (0)

    Publication numberPublication dateAssigneeTitle